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Statistische Detektion von Anomalien in Bilddaten von Mikrobauteilen
Authors
Staar, B.
Kück, M.
Ait Alla, A.
Lütjen, M.
Simic, A.
Freitag, M.
Meta information
[BibTeX]
Year: 2017, Reviewed
In: Industrie 4.0 Management
Publisher: GITO Verlag, Berlin
Volume 2, Issue 33
Pages: 52-56
ISSN: 2364-9208
Staar, B.; Kück, M.; Ait Alla, A.; Lütjen, M.; Simic, A.; Freitag, M.
Statistische Detektion von Anomalien in Bilddaten von Mikrobauteilen
In: Industrie 4.0 Management, 2(2017)33, GITO Verlag, Berlin, pp. 52-56
(Workgroup:
BIBA
)
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